《半导体可靠性技术》实验教学大纲
发布人:系统管理员  发布时间:2014-09-19   浏览次数:2

 课程编号:17130361                                大纲执笔人:王明湘

课程名称:半导体可靠性技术                   大纲审批人:李富华
英文名称:Semiconductor Security Technology
课程学时:36学时                                          实验学时:4学时
实验室名称:微电子实验室
实验课性质:非独立设课
适用专业:微电子学和电子科学与技术
 
一、本课程实验教学目的与要求
通过实验学习,使学生了解半导体器件主要的失效机理,器件失效分析的作用,半导体可靠性物理学产生过程.
 
二、主要仪器设备及现有台套数
PC,现有25台; Work Station现有4台;
 
三、实验课程内容和学时分配
序号
实验项目名称
目 的 要 求
学时
分配
实验
类型
每组
人数
必开、选开
1
微电子器件的失效分析和失效机理
失效影响的仿真分析
4
设计性实验
1
选开
2
可靠性设计方法
学会常见的可靠性设计方法及仿真
4
设计性实验
1
选开
 
序号1、2、3、4适应微电子学和电子科学与技术专业。
 
四:实验项目的内容和要求
(1)实验项目名称:微电子器件的失效分析和失效机理
实验内容:首先设计现象,并根据电路图和设计规则做出仿真程序。
实验要求:具有层次化设计概念,布局要合理,通过失效机理与失效分析解读设计程序的结果。
(2)实验项目名称:可靠性设计方法
实验内容:对设计过程中的可靠性保障,通过冗余设计、降额设计、内建可靠性设计等措施实现一个可行方案。
实验要求:保证符合设计规则要求, 表现可靠性设计中的必要性。
五、考核方式
1、实验报告:
有设计程序, 验证报告。
2、考核方式
(1)实验课的考核方式:教师验收评定成绩。
(2)实验课考核成绩:根据实验完成情况和实验报告是否完整确定,实验课成绩占课程总成绩的10%。
 
六、实验教材、参考书
1、教材:
2、参考书:
(1)《微电子器件可靠性》,史保华、贾新章、张德胜编著,西安电子科技大学出版社,1999
(2)《微电子器件与电路可靠性》,张安康,电子工业出版社,1994
(3)《可靠性设计与分析》陆延孝、郑鹏洲主编,国防工业出版社,1995
(4) 孙青、庄亦琪等编,《电子元器件可靠性工程》,电子工业出版社2002出版。